X-Işınları Laboratuarı

Malzemelerin 'parmak izi' diye de adlandırılan ve malzeme biliminde en önemli karakterizasyon yöntemlerinin başında gelen XRD (X-Işını Difraksiyonu), bir yapısal karakterizasyon tekniğidir. XRF (X-Işını Floresans) ise malzemeden saçınan ikincil karakteristik X-Işınları yardımı ile bir elemental (veya kimyasal) analiz yapma imkanı tanıyan bir tekniktir.

Rigaku MiniFlex XRD

XRF'in önden görüntüsü

XRF'in yandan görüntüsü

Son Güncelleme Tarihi: 14 Temmuz 2014, Pazartesi