X-Işınları Laboratuvarı
Malzemelerin 'parmak izi' diye de adlandırılan ve malzeme biliminde en önemli karakterizasyon yöntemlerinin başında gelen XRD (X-Işını Difraksiyonu), bir yapısal karakterizasyon tekniğidir. XRF (X-Işını Floresans) ise malzemeden saçınan ikincil karakteristik X-Işınları yardımı ile bir elemental (veya kimyasal) analiz yapma imkanı tanıyan bir tekniktir.
Rigaku MiniFlex XRD
XRF'in önden görüntüsü
XRF'in yandan görüntüsü
Son Güncelleme Tarihi: 13 Mayıs 2024, Pazartesi